顆粒是組成材料的基本單元，影響材料的性能的不僅是顆粒的化學組成，顆粒的大小與顆粒的形態(tài)對材料的性能影響巨大，因此顆粒粒度與形態(tài)的檢測越來越受到各行業(yè)的重視。
 

　　目前檢測顆粒大小和顆粒形態(tài)的方法有多種，激光粒度分析儀、沉降粒度儀、電阻法粒度亦、顆粒圖像分析技術(shù)是常用的技術(shù)。
 

　　激光粒度分析儀、沉降粒度儀、電阻法粒度儀，只能檢測顆粒大小，不能檢測顆粒形狀;顆粒圖像分析技術(shù)具有操作簡單，測試范圍廣，可靠，直觀可視，適用于各種固體顆粒?？梢詮V泛應(yīng)用于建材、化工、石油、金屬與非金屬、環(huán)保、輕工、等眾多領(lǐng)域的實驗室和在線顆粒粒度與形狀分析。
 

　　顆粒圖像分析儀將是一種將現(xiàn)代電子技術(shù)與光學顯微鏡相結(jié)合而成的一種粉體顆粒物性檢測儀器。用電子攝像機拍攝經(jīng)顯微鏡放大的顆粒圖像。圖像信號輸入計算機后，計算機自動進行對顆粒進行形貌特征和粒度進行分析，給出測試報告。
 

　　顆粒圖像分析儀的基本原理：
 

　　光學顯微鏡首先將待測的微小顆粒放大，并成像在CCD攝像機的光敏面上;攝像機將光學圖像轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖片信息，然后傳輸并存儲在計算機系統(tǒng)里。
 

　　計算機對接收到的數(shù)字化了的顯微圖像信息進行二值化處理，識別顆粒的輪廓。然后按照一定的等效模式，計算各個顆粒的粒徑、圓度等物理參數(shù)。一般而言，一幅圖像(即圖像儀的一個視場)包含幾個到上百個不等的顆粒。
 

　　圖像儀能自動計算視場內(nèi)所有的顆粒的粒徑，并統(tǒng)計，形成粒度報告、圓度報告等。當已經(jīng)測到的顆粒數(shù)不夠多時，可以通過調(diào)整顯微鏡的載物臺，換到下一個視場，繼續(xù)測試并累計。